بررسی تاثیر آزمونهای حافظه نهان و سطح پردازش بر آماده سازی در حافظه

هدف اصلی این پژوهش، بررسی عامل مؤثر بر «آماده سازی» در آزمونهای حافظه بود. با توجه به مدل «پردازش متناسب با انتقال» و با در نظر داشتن ویژگی های آزمونهای «ستاک واژه» و «پاره لغت» (رودیگر و همکاران، 1999)،پیش بینی شده بود که تکلیف «پاره لغت» بیش از آزمون «ستاک واژه» در برابرسطح پردازش حساسیت نشان خواهد داد.
آزمودنی های این پژوهش 40 دانشجوی دوره کارشناسی بودند که به تصادف در چهار گروه آزمایشی قرار گرفته اند. آزمونهای تکمیل «پاره لغت» و «ستاک واژه» شامل 40 ماده هدف و 40 ماده پرکننده بوده است. همان طور که انتظار می رفت، هر یک از دو عامل سطح پردازش و نوع آزمون (پاره لغت وستاک واژه) به گونه ای معنادار بر «آماده سازی» تاثیر داشته است. همچنین درتعامل این دو عامل، سطح پردازش بر تکلیف «پاره لغت» اثر داشته و بر تکلیف «ستاک واژه» بی تاثیر بوده است.