بررسی خواص ساختاری، ریخت شناسی، نوری و مغناطیسی الیاف اکسید کبالت الکتروریسی شده

هدف از این پژوهش، مشخصه یابی الیاف اکسید کبالت تهیه شده به روش الکتروریسی است. بررسی ویژگی های ساختاری، ریخت شناسی، نوری و مغناطیسی الیاف، به ترتیب، با استفاده از الگوی پراش پرتو ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)، طیف سنجی بازتابشی پخشی (DRS) و آنالیز مغناطیس سنج نمونه ارتعاشی (VSM)، در دو دمای تکلیس متفاوت، صورت گرفت. الگوی پراش پرتو ایکس، فاز مکعبی را برای الیاف اکسید کبالت تکلیس شده نشان می دهد. متغیرهای ریزساختاری، از قبیل اندازه و تابع توزیع بلورک ها، با استفاده از آنالیز الگوی پراش پرتو ایکس و روش برازش کل نقش پراش (WPPM) تعیین شد. نتایج بدست آمده از تحلیل الگوی پراش پرتو ایکس و توزیع اندازه بلورک ها، افزایش اندازه بلورک ها را با افزایش دمای تکلیس، نشان می دهد. تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی، تولید الیافی با قطر متوسط 250-200 نانومتر و با جهت گیری تصادفی را نشان می دهد. نتایج بدست آمده از طیف سنجی بازتابشی پخشی، کاهش انرژی گاف نواری الیاف را با افزایش دمای تکلیس، نشان می دهد. آنالیز مغناطیسی انجام گرفته با استفاده از VSM، فاز پارامغناطیسی الیاف را با افزایش دمای تکلیس، تایید می کند.