محاسبه پروفایل فوتونهای پراکنده شده در سیستمهای سی تی اسکن 64 برش با استفاده از اندازه گیری عملی

یکی از پارامترهای موثر در کاهش کیفیت تصاویر در سیستمهای توموگرافی کامپیوتری، ثبت فوتونهای پراکنده می باشد. میزان ثبت فوتونهای پراکنده بستگی به هندسه اسکنر و همچنین شکل و مواد جسم مورد تصویر برداری دارد. جهت انجام اصلاحات لازم نحوه توزیع و مقدار فوتونهای پراکنده ثبت شده در پروسه جمع آوری اطلاعات باید شناخته شود. روش های عملی اندازه گیری فوتونهای پراکنده مبتنی بر مسدود کردن پرتوهای اولیه در یک نقطه، تنها مقدار فوتونهای پراکنده را در یک نقطه محاسبه می کنند حال آنکه پروفایل فوتونهای پراکنده در تمام آشکارسازها می تواند بسیار موثرتر باشد. در این تحقیق تلاش شده است تا پروفایل فوتونهای پراکنده مربوط به سی تی اسکن 64 اسلایس با روش اندازه گیری عملی جدیدی اندازه گیری شود.
جهت اندازه گیری عملی فوتونهای پراکنده از از آرایه تک بعدی مسدود کننده های سربی استفاده شد که با قرار دادن این آرایه در زیر کالیماتور محدود کننده پرتو و پرتودهی فانتوم، فایل داده های خام حاصل از پرتودهی مستقیما از آشکار ساز دستگاه استخراج شد.
با بدست آوردن منحنی های فوتونهای پراکنده و بهره فوتونهای پراکنده به اولیه مشاهده شد که افزایش ولتاژ تیوب ازکیلو ولتاژ پیک 80 به کیلو ولتاژ پیک140 باعث کاهش80 درصدی بهره فوتونهای پراکنده به اولیه در فانتوم آب می شود، افزایش فاصله فانتوم و آشکارساز به اندازه 9/20 سانتی متر موجب 30 درصد افزایش بهره فوتونهای پراکنده به اولیه در آشکار سازهای مرکزی می شود.
روش اندازه گیری عملی ارائه شده قابلیت استخراج توزیع فوتونهای پراکنده فقط با یکبار اکسپوز فانتوم را داراست و روش مناسبی جهت تخمین فوتونهای پراکنده است.