ارزیابی ویژگی های کیفیت دسته پرتو X دستگاه رادیوتراپی سطحی با روش تجربی و شبیه سازی

یکی از روش های متداول در رادیوتراپی برای درمان های سطحی به ویژه در درمان ضایعات سطحی پوستی استفاده از دستگاه ارتوولتا‍ژ پرتو X (تا kVp 300) می باشد. کیفیت پرتو X خروجی مهم ترین شاخص برای درمان در این نوع دستگاه ها می باشد که معمولا به صورت ضخامت لایه نیم جذب (HVL) وانر‍ژی موثر فوتون نشان می دهندکه در این تحقیق علاوه بر دو شاخص مذکور ضریب همگنی نیز به عنوان شاخصی دیگر مورد بررسی قرار گرفت.
در این مطالعه لایه نیم جذب (HVL) و ضریب همگنی دستگاه پرتو X سطحی در ولتاژ kV180 به روش تجربی تعیین گردید و با شبیه سازی به روش مونت کارلوبا کد EGSnrc مقایسه و نتایج گزارش گردید. برای این کار منحنی جذب با استفاده از اندازه گیری اکسپوژرعبوری از لایه های تضعیف کننده موجود در کلینیک رسم گردید و با درون یابی نقاط منحنی مناسب، لایه نیم جذب (HVL) و ضریب همگنی به دست آمد. همچنین دربسته EGSnrc، از کد BEAMnrc برای شبیه سازی سر دستگاه (Head ) تا اپلیکاتور و از BEAMDP برای محاسبه ضریب همگنی به طور سیستماتیک و ترسیم طیف خروجی (با استفاده ازداده های فضایی فازی) و از کد DOSXYZnrc برای ترسیم منحنی درصد دزعمقی در فانتوم آب استفاده گردید.
نتایج نشان می دهد میانگین درصد اختلاف HVL و ضریب همگنی به دست آمده از 2 روش شبیه سازی و تجربی به 96/4 % و 01/3 % می باشد.
باتوجه به مطالعات قبلی که میزان اختلاف بین HVL اندازه گیری شده با روش تجربی وشبیه سازی 2% تا بالای 10% گزارش گردید، میانگین اختلاف 96/4 % به دست آمد. که این میزان اختلاف، منطقی است. ضریب همگنی به دست آمده بیشتراز گزارش های قبلی محاسبه گردید که به علت تفاوت در کد استفاده شده قابل توجیه می باشد. لذا، با توجه به محدودیت های موجود درکلینیک، روش حاضر به دلیل سادگی چیدمان و مشابهت با شرایط کلینیکی به نظر می رسد که از کارآیی مناسبی برخوردار باشد.