بهبود قابلیت تشخیص خطاهای مجاور ناشی ازتشعشعات در FPGA های مورد استفاده در محیط های خشن

استفاده از FPGA های مبتنی بر SRAM در کاربردهای محیط های خشن مانند عملیات صنعتی،‏ نظامی و یا اکتشاف دور به دلیل قابلیت باز پیکربندی در این قطعات بسیار مورد توجه بوده است. FPGA های مبتنی بر SRAM فوق العاده به تشعشعات حساس هستند و نرخ (SEU (Single Event Upset در آنها بسیار زیاد است. کد همینگ برای مقابله با SEU در بیت های پیکره بندی ماژول سویچ FPGA های مبتنی بر SRAM استفاده شده است. این کد قابلیت تصحیح خطاهای تک بیتی را دارد،‏ اما با پیشرفت تکنولوژی قطعات نیمه هادی و افزایش چگالی حافظه ها،‏ یک ذره پر انرژی از تشعشعات فضایی می تواند چند بیت حافظه را به صورت هم زمان دچارSEU گرداند که در اکثر موارد این بیت ها مجاور هستند. در این مقاله دو جایابی بیت جدید برای بیت های پیکره بندی ماژول سویچ ارائه شده است که موجب افزایش قابلیت تشخیص خطاهای مجاور دوتائی از11 /11% به 66 /66% ( در مقاوم سازی با کد همینگ در سطح جعبه سویچ ) و از 75 /3% به 75% (در مقاوم سازی با کد همینگ در سطح ماژول سویچ) می شوند. همچنین یک روش دیگر مبتنی بر الگوریتم ژنتیک ارائه شده است که اعمال آن (در مقاوم سازی با کد همینگ در سطح جعبه سویچ) موجب تشخیص 88 /88% خطاهای مجاور دوتائی می شود. هر دو روش اعمال شده (جایابی بیت انتخابی و روش ارائه شده مبتنی بر الگوریتم ژنتیک) هیچگونه افزونگی را تحمیل نمی کنند.