اندازه گیری همزمان ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه های چندلایه ای با استفاده از نتایج مقطع نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه

در مقطع نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه1، تصویری از ضخامت اپتیکی یعنی حاصل ضرب ضریب شکست n در ضخامت فیزیکی d، مثلا برای لایه های شبکیه چشم به دست می آید که برای تشخیص بسیاری از بیماری ها در بیمارستان های کشور استفاده می شود. در کار حاضر، ما یک روش جهت اندازه گیری همزمان و مجزای ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه های چندلایه ای با استفاده از مقطع نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه بدون اطلاعات اضافی از ساختار نمونه، معرفی می کنیم. در این روش تنها داده های ورودی، طیف به دست آمده از FD-OCT و ضخامت اپتیکی لایه های نمونه که از انتقال فوریه ی طیف تداخلی به دست می آید، است. نتایج شبیه سازی بیانگر این مطلب است، که دقت کمیت های اندازه گیری شده به اختلاف ضریب شکست دو طرف سطوح نمونه بستگی دارد، چون هرچه اختلاف ضریب شکست دو لایه مجاور بیشتر باشد ضریب بازتاب اپتیکی از آن بیشتر خواهد بود. همچنین نشان خواهیم داد که دقت کمیت های به دست آمده تحت تاثیر دقت اندازه گیری ضخامت اپتیکی لایه ها است. بنابراین روشی جهت بهینه کردن دقت این کمیت ها با وجود عدم قطعیت در اندازه گیری ضخامت اپتیکی معرفی می کنیم. نتایج شبیه سازی نشان داده است، برای نمونه های زیستی شفاف که در محیط آبی قرار دارند، اگر ضریب شکست لایه ها کمتر از 55/1 باشند کمیت ها با خطای کمتر از 001/0 قابل اندازه گیری اند.