جستجوی مقالات مرتبط با کلیدواژه « لایه نشانی الکتروشیمیایی » در نشریات گروه « فنی و مهندسی »
-
لایه های نازک اکسیدآهن با ضخامت 300 نانومتر به روش لایه نشانی الکتروشیمیایی بر روی شیشه رسانا FTO نشانده و در دمای 300 درجه سانتی گراد پخت شده اند. به منظور تعیین ساختار، مورفولوژی سطح، بررسی خواص الکتروکرومیک و اپتیکی لایهنازک اکسید آهن به ترتیب از آنالیزهای XRD،SEM، ولتامتری چرخه ای (CV)، کرونوآمپرومتری (CA) و UV/Visاستفاده گردید. نتایج نشان می دهند که لایه نازک اکسید آهن با فاز کریستالی Fe2O3-α و اندازه ذرات 40 نانومتر به طور یکنواخت بر روی سطح FTO نشانده شده اند. جهت بررسی خواص الکتروکرومیک از دو الکترولیت متفاوت لیتیم پرکلرات در حلال پروپیلن کربنات و لیتیم هیدروکسید در آب استفاده گردید. اندازه گیری های ولتامتری چرخه ای و کرونوآمپرومتری نشان داد که در محدوده پتانسیل 5/ 1- تا 1 ولت نوع الکترولیت بر نحوه و رفتار رنگی شدن لایه نازک اکسیدآهن تاثیرگذار است.
کلید واژگان: لایه نازک, الکتروکرومیک, لایه نشانی الکتروشیمیایی}Fe2O3 thin film with 300 nm thickness is deposited on FTO substrate using electrodeposition technique. After deposition, samples were annealed at 300°C for 30 min. X ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Cyclic voltammetry (CV), choronometry and UV/Vis spectrophotometric analysis were used for studying the structure, morphology, electrochromic and optical properties of synthesized thin films, respectively. Based on our results, α-Fe2O3 nanoparticles with 40 nm size were uniformly distributed on FTO surface thin film. We have used two different electrolytes LiClO4 – PC and LiOH for investigation of electrochromic behavior of thin films. Results showed that this behavior depends on the electrolyte type in the potential range of -1.5 to 1 V.Keywords: Thin film, Electrochromic, Electrodeposition}
نکته
- نتایج بر اساس تاریخ انتشار مرتب شدهاند.
- کلیدواژه مورد نظر شما تنها در فیلد کلیدواژگان مقالات جستجو شدهاست. به منظور حذف نتایج غیر مرتبط، جستجو تنها در مقالات مجلاتی انجام شده که با مجله ماخذ هم موضوع هستند.
- در صورتی که میخواهید جستجو را در همه موضوعات و با شرایط دیگر تکرار کنید به صفحه جستجوی پیشرفته مجلات مراجعه کنید.