TEM specimen preparation techniques
In this article, TEM sample preparation techniques for nanomaterials and composites are described with illustrative examples. The site-specific TEM specimen preparation using focused ion beam (FIB) milling is presented, too. As specimen preparation involves thinning the sample to electron transparent thickness it can result in artifacts, which are briefly reported.
TEM , Specimen preparation , TEM foils , electropolishing , ionmilling , FIB , artifacts
پرداخت حق اشتراک به معنای پذیرش "شرایط خدمات" پایگاه مگیران از سوی شماست.
اگر عضو مگیران هستید:
اگر مقاله ای از شما در مگیران نمایه شده، برای استفاده از اعتبار اهدایی سامانه نویسندگان با ایمیل منتشرشده ثبت نام کنید. ثبت نام
- حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران میشود.
- پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانههای چاپی و دیجیتال را به کاربر نمیدهد.