TEM specimen preparation techniques

Author(s):

Aida Azami , Davoud Gharailou

Message:
Abstract:

In this article, TEM sample preparation techniques for nanomaterials and composites are described with illustrative examples. The site-specific TEM specimen preparation using focused ion beam (FIB) milling is presented, too. As specimen preparation involves thinning the sample to electron transparent thickness it can result in artifacts, which are briefly reported.

Keywords:

TEM , Specimen preparation , TEM foils , electropolishing , ionmilling , FIB , artifacts

Language:
Persian
Published:
Iranian Journal Of Laboratory Knowledge, Volume:2 Issue: 3, 2014
Page:
25
https://magiran.com/p2058602  
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یک‌ساله به مبلغ 1,390,000ريال می‌توانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
اطلاعات بیشتر
توجه!
  • حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران می‌شود.
  • پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانه‌های چاپی و دیجیتال را به کاربر نمی‌دهد.
In order to view content subscription is required

Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!
More information