تحلیل کمی با XRF بدون نمونه های شاهد

نویسنده:

سعید برادران دیلمقانی* ، پروفسور م. مانتلر

نوع مقاله:
مقاله پژوهشی/اصیل (دارای رتبه معتبر)
چکیده:

تحلیل کمی عناصر با طیف سنجی پرتو X کاربردهای فراوانی دارد. برای دستیابی به مقدار عناصر موجود در یک ماده از نمونه های استاندارد استفاده می شود. استفاده از تعداد زیادی از نمونه های استاندارد با درصدهای معلوم عناصر، اصولا همراه با صرف وقت زیاد و محاسبات طولانی است...

کلیدواژگان:

طیف سنجی پرتو X ، فلوئورسانس پرتو X ، نمونه شاهد ، برانگیختگی اول ، برانگیختگی دوم

زبان:
فارسی
انتشار در:
مجله بلور شناسی و کانی شناسی ایران، سال دوم شماره 2 (پیاپی 6، پاییز 1373)
صفحات:
91 تا 108
لینک کوتاه:
magiran.com/p2303889 
دانلود و مطالعه متن این مقاله با یکی از روشهای زیر امکان پذیر است:
اشتراک شخصی
با عضویت و پرداخت آنلاین حق اشتراک یک‌ساله به مبلغ 1,390,000ريال می‌توانید 70 عنوان مطلب دانلود کنید!
اشتراک سازمانی
به کتابخانه دانشگاه یا محل کار خود پیشنهاد کنید تا اشتراک سازمانی این پایگاه را برای دسترسی نامحدود همه کاربران به متن مطالب تهیه نمایند!
اطلاعات بیشتر
توجه!
  • حق عضویت دریافتی صرف حمایت از نشریات عضو و نگهداری، تکمیل و توسعه مگیران می‌شود.
  • پرداخت حق اشتراک و دانلود مقالات اجازه بازنشر آن در سایر رسانه‌های چاپی و دیجیتال را به کاربر نمی‌دهد.
In order to view content subscription is required

Personal subscription
Subscribe magiran.com for 70 € euros via PayPal and download 70 articles during a year.
Organization subscription
Please contact us to subscribe your university or library for unlimited access!
More information