ساخت نانو سیم های CoZn انباشت شده در آلومینای نانومتخلخل و مشخصه یابی آن با استفاده از روش پس پراکندگی رادرفورد

در این تحقیق نانوسیم های آلیاژ CoZn در قالب اکسید آلومینیوم متخلخل توسط تپ جریان متناوب (ac) انباشت شدند. قالب اکسید آلومینیوم از طریق آنودایز نرم دو مرحله ای ورقه آلومینیوم خالص ساخته شد و ریخت شناسی آن با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی مشخص شد.به منظور مطالعه سیستماتیک نمونه ساخته شده، از روش های غیرمخرب تحلیل با باریکه یونی استفاده شد. از بین این روش ها تحلیل طیف پس پراکندگی رادرفود با برخورد یون های پروتون با انرژی keV 2000 و keV 2500 و یون های هلیوم با انرژی keV 2500 با ماده انجام شد. تحلیل و بررسی طیف RBS نمونه به همراه شبیه سازی های انجام شده با کد SIMNRA، امکان تعیین غلظت، نمایه عمقی عناصر موجود در نمونه و تعیین استوکیومتری قالب آلومینا در عمق های متفاوت را فراهم کرد. بهترین نتایج به دست آمده مربوط به تحلیل با پروتون keV 2500 است که عمق نانوسیم های آلیاژ CoZn را برابر 10 الی 14 میکرومتر به دست آورد. همچنین برای صحت سنجی نتایج، از نمونه تصاویر FE-SEM تهیه شد که موید همخوانی با نتایج به دست آمده از روش RBS است.