به جمع مشترکان مگیران بپیوندید!

تنها با پرداخت 70 هزارتومان حق اشتراک سالانه به متن مقالات دسترسی داشته باشید و 100 مقاله را بدون هزینه دیگری دریافت کنید.

برای پرداخت حق اشتراک اگر عضو هستید وارد شوید در غیر این صورت حساب کاربری جدید ایجاد کنید

عضویت

جستجوی مقالات مرتبط با کلیدواژه « spray pyrolysis » در نشریات گروه « زمین شناسی »

تکرار جستجوی کلیدواژه « spray pyrolysis » در نشریات گروه « علوم پایه »
  • سید محمد روضاتی*، سید امیر سید هاشمی

    در این پژوهش سعی شده است که ویژگی های فیزیکی و ساختاری لایه های نازک ZnO، ZnS/ZnO ، ZnO/ZnS/ZnO با جزئیات بررسی شود. لایه های نازک ZnO،ZnS/ZnO  و ZnO/ZnS/ZnO بر روی زیرلایه های (بستر) شیشه و FTO (Sno2:F) در دمای 300 تا 550 درجه سانتی گراد با روش اسپری پایرولیز تهیه شدند. کلرید روی و تیوره برای ZnS و استات روی برای ZnO به عنوان پیش ماده برای تهیه محلول اولیه استفاده شدند. نسبت مولاریته محلول بهینه Zn:S ، 2:1 بود. مناسبترین حجم محلول اکسید روی خالص 50 میلی لیتر و بهترین حجم محلول سولفید روی خالص 25 میلی لیتر بوده است. نرخ شارش بهینه برای ایجاد فیلم های اکسید روی خالص 4/1 میلی لیتر بر دقیقه و نرخ جریان بهینه برای ایجاد فیلم های نازک سولفید روی خالص نیز 2/1 میلی لیتر بر دقیقه بوده است. مناسبترین دما برای ایجاد فیلم های نازک نانوساختاری اکسید روی خالص در محیط هوا 500 درجه سانتی گراد و مناسبترین دما برای ایجاد فیلم های نازک نانوساختاری ZnS خالص در محیط هوا 450 درجه سانتی گراد می باشد. خواص فیزیکی، الکتروشیمیایی و ساختاری لایه های نازک ZnO،ZnS/ZnO ، ZnO/ZnS/ZnO تهیه شده به روش اسپری پایرولیز با آنالیزهای مختلف مورد بررسی قرار گرفت. خواص ZnO،  ZnS/ZnOو ZnO/ZnS/ZnO با آنالیزهای XRD، FESEM، EDS، NIR، CV، GCD و EIS مشخصه یابی شده است. نتایج آن ها نشان می دهد که فیلم ها، ساختاری در مقیاس نانو دارند. نتیجه پراش پرتو ایکس، حضور فاز مکعبی و فاز شش گوشی مربوط به ZnS را با سمت گیری ترجیحی در راستای مکعبی [111] و هگزاگونال [002] نشان می دهد. میکروسکوپ الکترونی روبشی، سطح لایه های نازک نانوساختاری را همگن و فشرده نشان داده است. ویژگی های الکتروشیمیایی لایه های نازک نانوساختار با تجزیه و تحلیل ولتامتری چرخه ای، تخلیه بارگالوانوستاتیک و طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی تعیین و بررسی شده است. نتیجه بیانگر این است که لایه نازک نانوساختاری ZnS/ZnO بالاترین ظرفیت را در مقایسه با سایر لایه های نازک آماده شده داراست.

    کلید واژگان: اکسید روی, سولفید روی, فیلم نازک, اسپری پایرولیزز, الکتروشیمی}
    Seyed Mohammad Rozati*, Seyed Amir Seyed Hashemi

    This research investigates and amends the physical properties of pure ZnO and ZnO/ZnS, ZnO/ZnS/ZnO thin films in detail for the first time. Thin films of ZnO, ZnO/ZnS, and ZnO/ZnS/ZnO were prepared on glass and SnO2: F (FTO) substrates at 300-550℃ by spray pyrolysis technique. The initial solution was prepared using zinc chloride (ZnCl2) and thiourea (SC(NH2)2) for ZnS and Zinc acetate (ZnC₄H₆O₄) for ZnO. The optimum solution molarity ratio of Zn:S was determined to be 2:1. Also, the best volume of pure ZnO solution and pure ZnS solution was 50 mL and 25 mL, respectively. In addition, the optimum flow rate for the deposition of pure ZnO solution and deposition of pure ZnS was 1.4 mL/min and 1.2 mL/min, respectively. The best temperature for deposition of pure ZnO solution and pure ZnS solution in air ambient was 500℃ and 450℃, respectively. The physical, electrochemical, and structural properties of ZnO, ZnO/ZnS, and ZnO/ZnS/ZnO thin films prepared by the spray pyrolysis method were investigated using different analyses. The properties of ZnO, ZnO/ZnS, and ZnO/ZnS/ZnO were characterized by X-Ray Diffraction (XRD), Field Emission Scanning Electron Microscopy (FESEM), Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), Near-infrared (NIR) Spectroscopy, Cyclic Voltammetry (CV), Galvanostatic Charge-Discharge (GCD) and Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS). The results show that the films have a nano-scale structure. In this respect, the XRD results showed the presence of cubic phase and hexagonal phase corresponding to ZnS with a preferred orientation along the ZnS (111) and (002) cubic and hexagonal direction. FESEM demonstrated a homogeneous and compact surface of the prepared thin films. The electrochemical properties of the nanostructured thin films were determined by CV, GCD and EIS analyses. The nanostructured ZnO/ZnS thin film demonstrates the highest specific capacitance compared to the other prepared thin films.

    Keywords: Zns, Zno, Thin Films, Spray Pyrolysis}
  • مجتبی عطایی، محمدرضا فدوی اسلام*

    در این پژوهش، دیودها با لایه نشانی لایه نازک اکسید مولیبدن بر بستر سیلیکون آلایش شده نوع p با هدف بررسی اثر دمای بستر بر ویژگی دیود ساخته شدند. به این منظور، لایه های نازک اکسید مولیبدن در بسترهای با دمای 350، 400، 450 و  oC 500 به روش افشانه گرمایی لایه نشانی شدند. ویژگی های ساختاری و نوری لایه های نازک بررسی گردید. آنها ماهیتی بسبلوری با ساختار راست گوشی و قله های پراشی مربوط به صفحه های (020)، (040) و (060) را نشان می دهند که قله ارجح در همه نمونه ها (040) است. ریختار سطح نمونه ها بدون ترک و دارای دانه بندی مستطیل شکل با اندازه دانه های در گستره 110 تا 210 نانومتر است. همچنین زبری متوسط سطح آنها در گستره 157 تا 167 نانومتر اندازه گیری شد. گاف نوری نمونه ها در گستره 84/2 تا eV 95/2 برآورد شد. نمودار ولتاژ - جریان نمونه ها رفتار دیودی آنها را نشان داد. دیود ساخته شده در دمای بستر oC400 دارای کمترین ولتاژ آستانه است.

    کلید واژگان: اکسید مولیبدن, لایه نازک, افشانه گرمایی, دیود}
    Mojtaba Ataei, Mohammad Reza Fadavieslam Fadavieslam*

    In this research, the diodes were made using a thin films of molybdenum oxide on the doped P-type silicon substrate with the aim of studying the effect of the substrate temperature on the characteristics of the diode. For this purpose, thin films of molybdenum oxide were deposited on the substrate at substrate temperatures of 350, 400, 450 and 500 ˚C by spray pyrolysis. The structural and optical properties of the thin films were characterized. They show a fairly crystalline nature with a straight structure and peaks corresponding to (020), (040) and (060) planes, with the preferred peak being (040) in all samples. The shape of the surface of the samples is without cracks and has a rectangular granulation with the size of the grains in the range of 110 to 210 nm. Also, their average surface roughness was measured in the range of 157 to 167 nm. The optical gap of the samples was estimated in the range of 2.84 to 2.95 eV. The voltage-current diagram of the samples showed their diode behavior. The diode made at 400 ˚C substrate temperature has the lowest threshold voltage.

    Keywords: Molybdenum Oxide, Thin Film, Spray Pyrolysis, P-N Junction Diode}
  • عباس جوادیان، محمدرضا فدوی اسلام*

    لایه های نازک اکسید نیکل با موفقیت در دماهای بستر 440، 460، 480 و 500 درجه سانتی گراد، نرخ های پاشش 1، 5/2، 5، و 5/7 میلی لیتر بر دقیقه، حجم های محلول پاشش 50، 100، 150 و 200 میلی لیتر و غلظت های نیکل در محلول پاشش 5، 10، 15 و 20 درصد اتمی بر بسترهای شیشه ای با استفاده از پیش ماده کلرید نیکل شش آبه (NiCl2.6H2O) به روش افشانه گرمایی لایه نشانی شدند. ویژگی های ساختاری و نوری لایه های نازک بررسی شدند. آنها ماهیتی بس بلوری با ساختار تک فاز مکعبی NiO و با قله های مربوط به صفحات (111)، (200) و (220) با جهت گیری ترجیحی در راستای (111) را نشان می دهند. ریختار لایه های نازک شامل دانه های کروی در کل سطح و زبری متوسط ​​در گستره 71/28 تا 63/105 نانومتر تابع شرایط لایه نشانی است. گاف نوری و انرژی اورباخ نمونه ها به ترتیب در گسترهای 55/2 تا eV 49/3 و 41/0 تا eV  55/0 برآورد شدند.

    کلید واژگان: اکسید نیکل, لایه نازک, افشانه گرمایی, شرایط لایه نشانی}
    Abas Javadian, MohammadReza Fadavieslsm*

    Nickel oxide thin films were successfully percipitated at different substrate temperatures (440, 460, 480, and 500 oC), spray rates (1, 2.5, 5, and 7.5 ml/min), solution volumes (50, 100, 150, and 200 ml), and nickel concentration (5, 10, 15, and 20 at.%) glass substrates using NiCl2.6H2O as precursor and the spray pyrolysis technique. The structural and  optical properties of the thin films were characterized. They show a polycrystalline nature with a cubic structure of single-phase NiO and peaks related to (111), (200), and (220) with a preferential orientation along (111). The morphology of the NiO thin films resembles that spherical grains on the entire surface, with an average roughness ranging from 28.71 to 105.63 nm, depending on the deposition conditions. The range of the optical gap and Urbach energy were measured to be 2.55 to 3.49 eV and 0.41 to 0.55 eV, respectively.

    Keywords: Nickel oxide, thin film, spray pyrolysis, deposition conditions}
  • حدیث تربتیان، محمدباقر رحمانی*

    در این پژوهش، دی اکسید تیتانیوم (2TiO) به عنوان اکسید فلزی نیمرسانای قابل کاربرد در فتوآندسلول های خورشیدی رنگدانه ای بررسی و سنتز شد. به این منظور، لایه های نازک 2TiO با روش گرماکافت افشانه ای رشد داده شده و ویژگی های فیزیکی آن ها بررسی شدند. برای آماده سازی زیرلایه اکسید قلع آلاییده با فلیور (FTO) به عنوان لایه رسانا ، لایه FTO روی شیشه لایه نشانی شد. لایه FTO سنتز شده با عبور بالای 90 درصد در ناحیه مریی و مقاومت الکتریکی کم مناسب استفاده به عنوان الکترود شفاف است. سپس لایه های 2TiO در دمای C° 150 بر دو زیرلایه شیشه و شیشه پوشش داده شده با FTO نشانده شدند. محلول اولیه برای گرماکافت افشانه ای از ماده اصلی ایزوپروپوکساید تیتانیوم و حلال ایزوپروپانول ساخته شد. نمونه ها با دو روش افشاندن پالسی و غیرپالسی و در دو حجم محلول اولیه 200 و mL 350 تهیه شدند. نتایج نشان داد که افشاندن پالسی محلول باعث شکل گیری لایه های 2TiO با ساختار بلوری با کیفیت تر می شود. الگوی پراش پرتوی ایکس XRD نشان دهنده تشکیل فاز آناتاز با قله ارجحی (101) بر زیرلایه FTO است. نمونه 2TiO لایه نشانی شده به روش پالسی بر روی FTO در حجم محلول اولیه mL 200 از نظر ویژگی های فیزیکی مناسب ترین نمونه برای استفاده به عنوان فوتوآند شناسایی شد.

    کلید واژگان: فوتوآند, دی اکسید تیتانیوم, گرماکافت افشانه ای, مشخصه یابی, لایه نازک}
    Torbatiyan, Rahmani *

    In this research, titanium dioxide (TiO2), as a metal-oxide semiconductor that can be applied in dye-sensitized solar cells as a photoanode, was studied and synthesized. For this reason, thin films of TiO2 were grown using the spray pyrolysis method and their physical properties were studied. To prepare the FTO substrate as the conductive layer, the FTO layer was deposited on the glass substrate. The transmittance above 90% in the visible region and low electrical resistance allows the use of the synthesized FTO as a transparent electrode. Subsequently, TiO2 films were coated using spray pyrolysis at the temperature of 150°C on top of both bare glass and FTO coated glass substrates. The precursor solution for spray was made of TTIP as the main material and isopropanol as solvent. Samples were prepared by two methods of pulsed and non-pulsed spraying in two volumes of precursor solution of 200 and 350 mL. Results showed that the pulsed deposited samples cause the formation of TiO2 films with higher crystal quality. XRD pattern analysis revealed the formation of the anatase crystal phase with preferred growth along the (101) plane on the FTO substrate. Considering its physical characteristics, the TiO2 sample deposited on FTO in a precursor solution volume of 200 mL by the pulsed method was introduced as the most suitable sample for being used as a photoanode.

    Keywords: photoanode, titanium dioxide, spray pyrolysis, characterization, thin film}
  • راحله پیله ور شهری، سونیا شافعی، شکوفه طباطبائی یزدی*

    نانوساختارهای پنتااکسید وانادیوم آلاییده با درصدهای وزنی مختلف ایندیوم (0، 10، 20 و at.%30 در محلول) به روش گرما کافت افشانه ای (اسپری پایرولیزیز) تهیه شدند. لایه های نازک تهیه شده به کمک پراش پرتو ایکس(XRD)، تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و آزمایش اثر هال مشخصه یابی شدند. نتایج XRD نشان داد که لایه های نازک در فاز چارگوشی بلوری می شوند. افزایش مقدار ایندیوم به شدت منجر به افزایش بی نظمی نانوساختارها و کاهش اندازه بلورک ها شده به طوری که اندازه بلورک ها با افزودن 30% وزنی ایندیوم به پنتااکسید وانادیوم تا بیش از 50% نسبت به نمونه خالص کاهش یافته است. تصاویر SEM لایه ها را نانوساختارهای تک فاز تشکیل شده از نانومیله و نانوتسمه هایی با پهنای متوسط nm 100-50 نشان داد. اندازه گیری های اثر هال نشان داد که نمونه های مورد بررسی همه نیمرسانای نوع n هستند و مقاومت آنها با افزایش ایندیوم افزایش یافته است که این را نیز می توان به افزایش بی نظمی ساختاری نمونه ها نسبت داد.

    کلید واژگان: نانوساختارهای پنتااکسید وانادیوم, ایندیوم, اسپری پایرولیزیز, لایه نازک نیمرسانای شفاف}
    Raheleh Pilevar Shahri, Soniya Shafei, Shekoufeh Tabatabai Yazdi*

    The In-doped vanadium pentoxide nanostructures with different doping levels including 0, 10, 20 and 30 at.% were prepared by the spray pyrolysis technique. The prepared thin films were characterized by the x-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM). The XRD results revealed that the films were crystalline in tetragonal phase. Increasing the In-doping level made the structure more disordered and decreased the crystallite size up to more than 50% for V2O5: In30at.% with respect to the pristine sample. The SEM results showed single phased nanorod- and nanobelt-shaped V2O5 structures with average diameters of 50-100 nm. The Hall effect measurements showed that all the involved films are n-type semiconductors whose resistance increases with In content; this also can be related to the enhanced structural disorder of the samples.

    Keywords: vanadium pentoxide nanostructures, indium, spray pyrolysis, transparent conducting fil.m}
  • سمانه پاک نیت، لیلی متولی زاده*، صفا جامی

    در این پژوهش لایه های نازک اکسید روی با ناخالصی گالیم به روش اسپری پایرولیزیز تهیه و اثر ناخالصی گالیم بر ویژگی های ساختاری و اپتیکی آنها بررسی شد. لایه های ZnO خالص و ZnO:Ga با ناخالصی گالیم از 1 تا 5 درصد در دمای بستر 350 درجه سانتی گراد تهیه شدند. نتایج پراش پرتوی X نشان می دهد که لایه های ZnO دارای ساختار بلوری ورتسایت با راستای ارجح (002) هستند و با افزایش مقدار ناخالصی، متوسط اندازه ی بلورک ها از 1/39 تا 1/16 نانومتر تغییر می کند. ویژگی های نوری همه نمونه ها از جمله طیف های عبوری و جذبی با استفاده از طیف سنج مرئی-فرابنفش (UV-Vis) بررسی شد که برپایه این داده ها، مقادیر گاف انرژی تعیین شد. نتایج نشان می دهد که عبور لایه ها در ناحیه مرئی بیش از 90% است. و گاف انرژی از eV 29/3 در نمونه خالص، با افزایش ناخالصی گالیم تا 5 درصد، به eV 38/3 افزایش می یابد.

    کلید واژگان: اکسید روی, اسپری پایرولیزیز, ناخالصی گالیم, لایه های نازک, گاف انرژی}
    samaneh Pakniyat, leyli Motevalizadeh*, safa Jami

    In this research, zinc oxide thin films with gallium impurity have been deposited using the spray pyrolysis technique. The structural and optical properties of these films are investigated as a function of gallium doping concentrations. The ZnO and ZnO:Ga  films grown at a substrate temperature of 350 ºC with gallium doping concentrations from 1.0 to 5.0.%. The XRD analysis indicated that ZnO films have nanocrystalline wurzite structure with (002) preferential orientation and grain size varied from 39.1 to 16.1 nm. The optical properties of the thin films have been performed using UV-Vis spectrophotometer and band gap energy values are determined. The results show that the transmittance of these films was higher than 90% in the visible region and by adding Ga up to 5.0%, band gap films have been increased.

    Keywords: Zinc Oxide, spray pyrolysis, Gallium doping, thin films, band gap energy}
  • الهه قلعه قافی، محمدباقر رحمانی*
    در این پژوهش، لایه های نازک اکسید مولیبدن (α-MoO3) بر زیرلایه های شیشه ای به روش اسپری پایرولیزیز لایه نشانی شد. ازM  05/0 آمونیوم هپتامولیبدات تتراهیدرات به عنوان پیش ماده و از آب مقطر به عنوان حلال استفاده گردید. اثر فشار گاز حامل طی افشاندن محلول بر ویژگی های ساختاری، نوری، ریخت شناسی و حسگری گازی لایه ها بررسی شد. تحلیل الگوی پراش پرتو X (XRD) رشد ترجیحی در راستای [020] و تشکیل فاز آلفای اکسید مولیبدن را نشان داد. شدیدترین قله ها در الگوی XRD نمونه تهیه شده در فشار  bar2 دیده شد که نشان دهنده بلورینگی بهتر این نمونه است. افزون بر این، طیف رامان این نمونه نتایج XRD را تایید نمود. نتایج طیف سنجی UV-Vis نشان داد که نمونه تهیه شده با فشار گاز حاملbar 8/1 بیشترین میزان جذب اپتیکی و کمترین گاف نواری (eV 48/3 ~) را دارد. تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ساختار لایه ای نمونه-ها را نشان داد. علاوه بر این، قطعات حسگر گازی بر پایه نمونه های تهیه شده در فشارهای مختلف گاز حامل ساخته و عملکرد حسگری آن ها بررسی شد. نتایج نشان داد که دمای کار بهینه (یعنی کمترین دما با بیشترین پاسخ حسگری در غلظت مشخص ppm 200 بخار اتانول) مقدار ºC 200 و مربوط به نمونه تهیه شده در فشار گاز حامل bar 8/1 است. همچنین بررسی اثر غلظت بخار اتانول در حضور این حسگر، افزایش حساسیت را به ترتیب از مقدار 42/1 تا 62/15 درصد برای غلظت بخار از 100 تا ppm 1000 نشان داد.
    کلید واژگان: اکسید مولیبدن, اسپری پایرولیزیز, ویژگی ساختاری و نوری, میکروسکوپ الکترونی, حسگر گازی}
    Elahe Ghaleghafi, Mohammadbagher Rahmani*
    In this research, molybdenum oxide (α-MoO3) thin films were coated on glass substrates using spray pyrolysis technique. 0.05 M ammonium heptamolybdate tetrahydrate was used as precursor and deionized water as solvent. The effects of carrier gas pressure, during the spraying of the solution, on the structural, optical, morphological and gas sensing properties of thin films were studied. X-ray diffraction (XRD) pattern analysis showed preferred growth at (020) peak direction and the formation of alpha phase of molybdenum oxide. The most intensive peaks were observed in the XRD pattern of the sample prepared under the carrier gas pressure of 2 bar, which indicates better crystallization of the sample. In addition, Raman spectrum of this sample confirmed the XRD results. UV-Vis spectroscopy results showed that the sample prepared under the carrier gas pressure of 1.8 bar has the highest optical absorption and the lowest band gap (~ 3.48 eV). Scanning electron microscope (SEM) images showed the layer structure of samples. Moreover, gas sensor devices based on the prepared samples at different carrier gas pressures, were fabricated and their sensing performances were investigated. Results showed that, the work temperature (i.e. the lowest temperature with the highest gas response at the specified ethanol vapor concentration of 200 ppm) was 200 ºC and belongs to the sample prepared under the carrier gas pressure of 1.8 bar. Also, studying the effect of ethanol vapor concentration extent for this sample showed the increasing of sensitivity percent from 1.42 to 15.62 % for 100 to 1000 ppm ethanol vapor, respectively.
    Keywords: molybdenum trioxide, spray pyrolysis, structural, optical properties, electron microscope, gas sensor}
  • طاهره محمودی*، مسعود منصوری
    در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ناخالصی آلومینیم به روش افشانه گرمایی بر زیرلایه های شیشه ای نشانده شدند. نخست ساختار بلوری لایه ها با استفاده از پراش پرتو ایکس بررسی شد و سپس ویژگی های نوری آنها با استفاده از طیف عبوری بررسی گردید. افزون بر این، به منظور شناخت اثر ناخالصی آلومینیم بر ساختار الکترونی اکسید روی، ساختار نواری هر دو ماده اکسید روی و اکسید روی آلاییده با آلومینیم با استفاده از محاسبات ابتدا به ساکن در چارچوب نظریه تابعی چگالی محاسبه شد. نتایج بررسی ها نشانگر آن است که لایه ها باساختار ششگوشی ورتسایت به صورت بسبلور رشد کرده اند و اندازه بلورک ها در راستای (002) برابر با 41/25  نانومتر و میزان گذردهی در ناحیه مرئی بیش از 80 درصد است. همچنین انتقال انرژی فرمی به داخل نوار رسانش نشان می دهد که آلومینیم در افزایش رسانش الکتریکی و تغییر آستانه گذردهی نوری لایه ها بسیار موثر است.
    کلید واژگان: اکسید روی, افشانه گرمایی, ناخالصی آلومینیم, نظریه تابعی چگالی}
    Tahereh Mahmoudi*, Masoud Masoudi
    In this research, ZnO thin films with Al impurity as dopant were coated onto cleaned glass substrates by the spray pyrolysis technique. Crystal structure of the thin films was studied via XRD, and UV-vis spectroscopy was carried out to investigate their optical properties. Finally, in order to study the effect of Al impurity in ZnO thin films, the band structures of both pure and doped systems were calculated and compared using ab initio calculations in the frame work of DFT. The results show that polycrystalline thin films with hexagonal wurtzite structure have been grown, and the crystal size of the (002) ones is 25.41 nm. Moreover, the transmission in the visible region is more than 80%. Furthermore, Fermi energy is shifted into the conduction band in the case of Al doped ZnO which leads to increasing the electrical conductivity and changing the optical transmission threshold.
    Keywords: zinc oxide, spray pyrolysis, Al impurity, density functional theory}
  • احمد امیرآبادی زاده *، سید امیرعباس امامی، سید مجتبی علوی صدر
    ویژگی های ساختاری، ریخت شناسی و مغناطیسی لایه های نازک Co0/5Zn0/5Fe2O4 به روش تحلیل پراش پرتوX ، میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی(FE-SEM) و مغناطیس سنج نمونه ی نوسانی(VSM) بررسی شد. لایه های نازک به روش افشانه آتشکافت (پایرولیز) لایه نشانی، سپس در دماهای °C500 و °C600 تکلیس شدند. نتایج پراش پرتو X نشان داد که نمونه های تکلیس شده، تک فازند و اندازه بلورک و ثابت شبکه، با افزایش دمای تکلیس زیاد می شود. تصاویر FE-SEM از سطح نمونه های تکلیس شده، توزیع همگنی از ذرات را نشان می دهد. اندازه ی ذرات بدست آمده نمونه های تکلیس شده در دمای °C 500 و °C 600 به ترتیب حدودا nm20 وnm 35 است. اندازه گیری های مغناطیسی در دمای اتاق برای دو حالت موازی و عمود بر سطح لایه نازک نشان می دهد که با افزایش دمای تکلیس مغناطش و وادارندگی لایه ها افزایش می یابد که این می تواند به دلیل مهاجرت یون های غیرمغناطیسی Zn2+ از جایگاه هشت وجهی به چاروجهی باشد.
    کلید واژگان: فریت Co-Zn, لایه نازک, ویژگی ساختاری, ویژگی مغناطیسی, افشانه آتشکافت}
    Ahmad Amirabadizadeh *, Seyed Amiabbas Emami, Seyed Mojtaba Alavi Sadr
    The structural, morphological and magnetic properties of Co0.5Zn0.5Fe2O4 nanoferrite thin films on glass substrates were investigated by X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FE-SEM) and vibrating sample magnetometer (VSM), respectively. These thin films were deposited by spray pyrolysis method and subsequently calcined at 500 and 600 ˚C. The XRD results reveal that the calcined samples have a single-phase, and their crystallite size and lattice parameter increase as the calcination temperature increases. FE-SEM images exhibit a homogeneous grain size distribution for calcined thin films, and the grains size of samples calcined at 500 and 600 ˚C are ~ 20 and 35 nm respectively. The room temperature magnetic measurements indicate that the magnetization and coercivity of the samples in both parallel and perpendicular direction to applied magnetic field increase with calcination temperature. These can be attributed to the migration of non-magnetic Zn2 ions from octahedral to tetrahedral sites.
    Keywords: Co-Zn ferrite, Thin film, Structural properties, Magnetic properties, Spray pyrolysis}
نکته
  • نتایج بر اساس تاریخ انتشار مرتب شده‌اند.
  • کلیدواژه مورد نظر شما تنها در فیلد کلیدواژگان مقالات جستجو شده‌است. به منظور حذف نتایج غیر مرتبط، جستجو تنها در مقالات مجلاتی انجام شده که با مجله ماخذ هم موضوع هستند.
  • در صورتی که می‌خواهید جستجو را در همه موضوعات و با شرایط دیگر تکرار کنید به صفحه جستجوی پیشرفته مجلات مراجعه کنید.
درخواست پشتیبانی - گزارش اشکال